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顆粒粒度的測量方法 顆粒形狀的測量
-2020-09-16-

顆粒的粒度與形狀對其產(chǎn)品的性質(zhì)與用途影響很大,因此,粒度與形狀的測量非常必要。例如,水泥的強(qiáng)度與其細(xì)度有關(guān),磨料的粒度和粒度分布決定其質(zhì)量等級(jí),粉碎和分級(jí) 也需要對其粒度進(jìn)行測量。隨著納米級(jí)材料的發(fā)展,人們對粒度測量提出了更高的要求。

顆粒粒度測量的主要方法:

直接觀察法:

采用的測量裝置有放大投影器,圖像分析儀,(與光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡相連),能譜儀(與電子顯微鏡相連) ,測量結(jié)果有粒度分布、形狀參數(shù)。

篩分法:

采用的測量裝置有電磁振動(dòng)式,聲波振動(dòng)式,測量結(jié)果有粒度分布直方圖。

沉降法:

重力 采用的測量裝置有比重計(jì)、比重天平、沉降天平、光透過式、X射線透過式,測量結(jié)果有粒度分布。

離心力 采用的測量裝置有光透過式、X射線透過式,測量結(jié)果有粒度分布。

激光法:

光衍射 采用的測量裝置有激光粒度儀,測量結(jié)果有粒度分布。

光子相干 采用的測量裝置有光子相干粒度儀,測量結(jié)果有粒度分布。

小孔透過法:

采用的測量裝置有庫爾特粒度儀,測量結(jié)果有粒度分布,個(gè)數(shù)計(jì)量。

流體透過法:

采用的測量裝置有氣體透過粒度儀,測量結(jié)果有比表面積,平均粒度。

吸附法:

采用的測量裝置有BFT吸附儀,測量結(jié)果有比表面積,平均粒度。

激光法:

激光法是近20年發(fā)展的顆粒測量方法,常見的有激光衍射法和光子相干法。激光粒度儀的優(yōu)點(diǎn)是,重復(fù)性好,測量速度快。其缺點(diǎn)是對幾微米的試樣,該儀器的誤差較大,激光 粒度儀的測量范圍一般為0.5-1000μm。

20世紀(jì)80年代中期,王乃寧等人提出綜合應(yīng)用米氏散射和夫朗和費(fèi)衍射的理論模型,即在小粒徑范圍內(nèi)釆用米氏理論,在大粒徑范闈內(nèi)仍采用夫朗和費(fèi)衍射理論,從而改善小料 徑范圍內(nèi)測量的精度。一般而言,激光法的分辨率不如沉降法。

顆粒形狀的測量:

測量顆粒形狀有兩種方法,一為圖像分析儀,它由光學(xué)顯微鏡、圖像板、攝像機(jī)和微機(jī)組成。其測量范圍為1?lOOμm,若采用體視顯微鏡,則可以對大顆粒進(jìn)行測量,電子顯微 鏡配圖像分析儀,其測量范為0.001-10μm。二為能譜儀,它由電子顯微鏡與能譜儀, 微機(jī)組成,其測量范圍為0.0001~100μm。

上述兩種方法,可測量顆粒的面積、周長及各形狀參數(shù),由面積、周長可得到相應(yīng)的粒徑,進(jìn)而可得到粒度分布。其優(yōu)點(diǎn)是具有可視性,可信程度高。但由于測量的顆粒數(shù)目有 限,特別是在粒度分布很寬的場合,其應(yīng)用受到一定的限制。